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Nouvelles techniques de micro et nano-analyse

de J.F. Bresse (auteur), Jacky Ruste (auteur)
janvier 1995
Livre papier
format 1 x 1 256 pages En stock
20,00 €
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Présentation

Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie.

Cet ouvrage fait le point sur les techniques récentes de micro et de nano-analyse qui ont fait l'objet de la réunion des 28 et 29 janvier 1993 à Paris. Après un exposé général sur les interactions rayonnement-matière et les résolutions spatiales qu'on peut attendre, différentes techniques permettant d'analyser un volume limité ou une surface sont décrites.

Ce sont les techniques utilisant les ions : sonde atomique, émission ionique secondaire (SIMS et SIMS-TOF), l'émission lumineuse résultant d'un plasma d'ions (SDL), les neutrons, le rayonnement X (photoémission en rayonnement synchrotron, ESCA), les électrons (spectroscopie HREELS), le rayonnement laser (effet Raman).

En conclusion, des tableaux comparatifs permettent de choisir une méthode d'analyse en fonction du problème à traiter.

Compléments

Caractéristiques

Langue(s) : Français

Public(s) : Professionnels, Recherche

Editeur : GN-MEBA

Edition : 1ère édition

Publication : 1 janvier 1995

EAN13 Livre papier : 9782900195239

Intérieur : Noir & blanc

Format (en mm) Livre papier : 1 x 1

Nombre de pages Livre papier : 256

Poids (en grammes) : 1

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