EBSD : Analyse par diffraction des électrons rétrodiffusés

Applications et techniques couplées

 

Editeur(s) scientifique(s) : Brisset François

 

GN-MEBA - novembre 2015

    • Livre papier

      85,00 €
     

    Présentation

     

    La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées, et en particulier l’analyse EBSD, sont

    impliquées dans des domaines extrêmement variés et recouvrant toutes sortes de matériaux. Dès lors qu’ils

    sont cristallisés, l’EBSD peut être utilisée et c’est devenu une technique de choix depuis que son potentiel a

    été mis en évidence par rapport aux autres techniques de diffraction dans un MEB en 1981 et depuis qu’elle

    est devenue une technique automatique en 1992. Parmi les principaux matériaux, nous pouvons nommer

    les métaux, les céramiques, les roches, les biomatériaux, les verres,etc. et cette technique est maintenant

    largement utilisée aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L’ensemble des

    bases théoriques, les principales caractéristiques techniques et analyses combinées ainsi que des applications

    spéci- ques sont développées dans cet ouvrage.

    De plus, la préparation des échantillons, souvent critique, l’acquisition sous haut vide ou vide contrôlé, les

    associations à des techniques complémentaires (EDS, Raman, essais in-situ) sont exposées. A coté de ces

    piliers structurants, d’autres points sont abordés tels que l’amélioration de la résolution spatiale avec l’EBSD

    en mode transmission, l’EBSD en haute résolution angulaire, l’EBSD 3D, etc.

    Ce volume en langue française, unique, est une version totalement refondue d’une précédente édition de 2004

    aujourd’hui presque épuisée. Il regroupe la plupart des conférences dispensées lors des journées pédagogiques

    2013 sur l’EBSD, et organisées par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de

    microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera

    aussi les spécialistes en science des matériaux cristallins (conducteurs ou non-conducteurs, etc.) désireux

    de s’investir dans cette puissante technique d’imagerie et d’analyse, a- n d’en exploiter pleinement ses forts

    potentiels. Il a été écrit par les orateurs de ces journées et d’autres experts internationaux. Le GN-MEBA est

    particulièrement reconnaissant envers David Dingley, Stuart Wright et Stefan Zaefferer qui ont donné leur

    accord pour participer à l’écriture de deux chapitres, en anglais, de cet ouvrage.

    Cet ouvrage s’inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques

    expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en

    Microanalyses.

     

     

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