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            <Subtitle>Cette collection est consacrée aux principes, techniques expérimentales, et méthodes de calcul et de simulation utilisés en microscopie électronique à balayage et en microanalyses.</Subtitle>
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        <Text>&lt;p&gt;&lt;strong&gt;Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie.&lt;/strong&gt;&lt;/p&gt; &lt;p&gt;La plupart des nouvelles techniques de microscopie sont décrites dans cet ouvrage regroupant les textes des interventions de la réunion des 23 et 24 janvier 1992 à Paris. Après une introduction traitant des aspects géométriques et physico-chimiques de la surface, les microscopies optiques sont abordées (microscopie confocale et à balayage laser, microscopie de fluorescence). La microscopie électronique (balayage et transmission) apparaît dans ses derniers développements pour la biologie.&lt;/p&gt; &lt;p&gt;Les microscopies à pointes font l’objet de plusieurs chapitres de cet ouvrage : microscopie à effet tunnel (STM), microscopie à force atomique (AFM), microscopie optique en champ proche (SNOM). Les principes de base ainsi que les aspects pratiques des microscopies à pointes sont traités. La microscopie par projection de rayons X et la microscopie acoustique complètent ce tour d'horizon.&lt;/p&gt;</Text>
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