EDP Sciences 1782853479 20260630 fre

laboutique.edpsciences.fr-000335 03 01 01 000335 03 9782900195307 15 9782900195307 00 BA 02 1 mm 01 1 mm 08 1 gr 10 01 02 GN-MEBA Cette collection est consacrée aux principes, techniques expérimentales, et méthodes de calcul et de simulation utilisés en microscopie électronique à balayage et en microanalyses. 01 01 Microanalyse X par sonde électronique Méthodes de Monte-Carlo et modèles de correction 1 A01 01 A465 J.F. Bresse Bresse, J.F. J.F. Bresse 2 A01 01 A466 M. Fialin Fialin, M. M. Fialin 3 A01 01 A464 Jean-Louis Pouchou Pouchou, Jean-Louis Jean-Louis Pouchou 1 01 fre 01 24 Izibook:Subject T- Physique / Généralités 24 Izibook:Subject T- Sciences de l'ingénieur / Technologie 24 Izibook:SubjectAndCategoryAndTags PHYSIQUE|T- Physique / Généralités| 24 Izibook:SubjectAndCategoryAndTags |T- Sciences de l'ingénieur / Technologie| 10 2011 SCI055000 10 2011 TEC000000 29 3058 29 3074 01 530 01 621 06 05 00 Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie. La réunion des 29 et 30 janvier 1996 à Paris, et la publication du présent ouvrage qui a suivi, ont eu pour objet de rendre compte des progrès obtenus dans la connaissance des phénomènes physiques mis en jeu en microanalyse X, depuis la parution, dans les années 1985-1987, des deux ouvrages "Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X" et "Microanalyse par sonde électronique : aspects quantitatifs". Grâce à l'augmentation des capacités de calcul des mini et micro ordinateurs, les simulations par la méthode de Monte-Carlo ainsi que les modèles de correction peuvent s'appliquer aux échantillons massifs, stratifiés (qui se généralisent en métallurgie et dans l'industrie du semiconducteur) ou présentant des microstructures divisées. L’analyse des échantillons isolants pose des problèmes particuliers qui sont abordés du point de vue des modifications apportées par le faisceau d’électrons et des conséquences sur le traitement des données. Après ce point sur l'état de l'art, quelques perspectives sont ébauchées. 03 00 Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie. La réunion des 29 et 30 janvier 1996 à Paris, et la publication du présent ouvrage qui a suivi, ont eu pour objet de rendre compte des progrès obtenus dans la connaissance des phénomènes physiques mis en jeu en microanalyse X, depuis la parution, dans les années 1985-1987, des deux ouvrages "Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X" et "Microanalyse par sonde électronique : aspects quantitatifs". Grâce à l'augmentation des capacités de calcul des mini et micro ordinateurs, les simulations par la méthode de Monte-Carlo ainsi que les modèles de correction peuvent s'appliquer aux échantillons massifs, stratifiés (qui se généralisent en métallurgie et dans l'industrie du semiconducteur) ou présentant des microstructures divisées. L’analyse des échantillons isolants pose des problèmes particuliers qui sont abordés du point de vue des modifications apportées par le faisceau d’électrons et des conséquences sur le traitement des données. Après ce point sur l'état de l'art, quelques perspectives sont ébauchées. 02 00 Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie. La réunion des 29 et 30 janvier 1996 à Paris, et la publication du présent ouvrage qui a suivi, ont eu pour objet de rendre compte des progrès obtenus dans la connaissance des phénomènes physiques mis en jeu en microanalyse X, depuis la parution, dans les années 1985-1987, des deux... 21 00 06 01 https://laboutique.edpsciences.fr/produit/335/9782900195307/microanalyse-x-par-sonde-electronique 01 00 03 02 https://laboutique.edpsciences.fr/system/product_pictures/data/009/981/509/original/Microanalyse_X_par_sonde__lectronique.jpg 17 14 20240913T172231+0200 01 P1 EDP Sciences 01 01 P1 EDP Sciences 17 avenue du Hoggar - PA de Courtaboeuf - 91944 Les Ulis cedex A http://publications.edpsciences.org/ 04 01 00 19970101 19 00 19970101 2026 06 3052868830012 01 WORLD WORLD 08 EDP Sciences 04 01 00 19970101 03 01 D1 EDP Sciences 21 04 05 01 02 1 00 20.00 01 5.50 1.04 EUR