Nouvelles techniques de micro et nano-analyse

 

De J.F. Bresse et Jacky Ruste

 

GN-MEBA - janvier 1995

    • Livre papier

      20,00 €
     

    Présentation

    Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie.

    Cet ouvrage fait le point sur les techniques récentes de micro et de nano-analyse qui ont fait l'objet de la réunion des 28 et 29 janvier 1993 à Paris. Après un exposé général sur les interactions rayonnement-matière et les résolutions spatiales qu'on peut attendre, différentes techniques permettant d'analyser un volume limité ou une surface sont décrites.

    Ce sont les techniques utilisant les ions : sonde atomique, émission ionique secondaire (SIMS et SIMS-TOF), l'émission lumineuse résultant d'un plasma d'ions (SDL), les neutrons, le rayonnement X (photoémission en rayonnement synchrotron, ESCA), les électrons (spectroscopie HREELS), le rayonnement laser (effet Raman).

    En conclusion, des tableaux comparatifs permettent de choisir une méthode d'analyse en fonction du problème à traiter.

    Supports disponibles

    • Livre papier

      format N.R., 256 pages, Noir & blancEn stock
    • Caractéristiques

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