Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie.

Cet ouvrage fait le point sur les techniques récentes de micro et de nano-analyse qui ont fait l'objet de la réunion des 28 et 29 janvier 1993 à Paris. Après un exposé général sur les interactions rayonnement-matière et les résolutions spatiales qu'on peut attendre, différentes techniques permettant d'analyser un volume limité ou une surface sont décrites.

Ce sont les techniques utilisant les ions : sonde atomique, émission ionique secondaire (SIMS et SIMS-TOF), l'émission lumineuse résultant d'un plasma d'ions (SDL), les neutrons, le rayonnement X (photoémission en rayonnement synchrotron, ESCA), les électrons (spectroscopie HREELS), le rayonnement laser (effet Raman).

En conclusion, des tableaux comparatifs permettent de choisir une méthode d'analyse en fonction du problème à traiter.