La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées, et en particulier l’analyse EBSD, sont impliquées dans des domaines extrêmement variés et recouvrant toutes sortes de matériaux. Dès lors qu’ils sont cristallisés, l’EBSD peut être utilisée et c’est devenu une technique de choix depuis que son potentiel a été mis en évidence par rapport aux autres techniques de diffraction dans un MEB en 1981 et depuis qu’elle est devenue une technique automatique en 1992. Parmi les principaux matériaux, nous pouvons nommer les métaux, les céramiques, les roches, les biomatériaux, les verres, etc. et cette technique est maintenant largement utilisée aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L’ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques et analyses combinées ainsi que des applications spécifiques sont développées dans cet ouvrage.

De plus, la préparation des échantillons, souvent critique, l’acquisition sous haut vide ou vide contrôlé, les associations à des techniques complémentaires (EDS, Raman, essais in-situ) sont exposées. A coté de ces piliers structurants, d’autres points sont abordés tels que l’amélioration de la résolution spatiale avec l’EBSD en mode transmission, l’EBSD en haute résolution angulaire, l’EBSD 3D, etc.

Ce volume en langue française, unique, est une version totalement refondue d’une précédente édition de 2004 aujourd’hui presque épuisée. Il regroupe la plupart des conférences dispensées lors des journées pédagogiques 2013 sur l’EBSD, et organisées par le Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux cristallins (conducteurs ou non-conducteurs, etc.) désireux de s’investir dans cette puissante technique d’imagerie et d’analyse, afin d’en exploiter pleinement ses forts potentiels. Il a été écrit par les orateurs de ces journées et d’autres experts internationaux. Le GN-MEBA est particulièrement reconnaissant envers David Dingley, Stuart Wright et Stefan Zaefferer qui ont donné leur accord pour participer à l’écriture de deux chapitres, en anglais, de cet ouvrage.

Cet ouvrage s’inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Electronique à Balayage et en Microanalyses.