Ouvrage défraîchi, non commercialisé en librairie.

La réunion des 29 et 30 janvier 1996 à Paris, et la publication du présent ouvrage qui a suivi, ont eu pour objet de rendre compte des progrès obtenus dans la connaissance des phénomènes physiques mis en jeu en microanalyse X, depuis la parution, dans les années 1985-1987, des deux ouvrages "Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X" et "Microanalyse par sonde électronique : aspects quantitatifs".

Grâce à l'augmentation des capacités de calcul des mini et micro ordinateurs, les simulations par la méthode de Monte-Carlo ainsi que les modèles de correction peuvent s'appliquer aux échantillons massifs, stratifiés (qui se généralisent en métallurgie et dans l'industrie du semiconducteur) ou présentant des microstructures divisées.

L’analyse des échantillons isolants pose des problèmes particuliers qui sont abordés du point de vue des modifications apportées par le faisceau d’électrons et des conséquences sur le traitement des données. Après ce point sur l'état de l'art, quelques perspectives sont ébauchées.